DIN EN 60269-4/A1-1997 低压熔断器.第4部分:保护半导体器件用熔断体的补充要求

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 04:10:51   浏览:8884   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Low-voltagefuses-Part4:Supplementaryrequirementsforfuse-linksfortheprotectionofsemiconductordevices(IEC60269-4:1986/A1:1995);GermanversionEN60269-4:1996/A1:1997
【原文标准名称】:低压熔断器.第4部分:保护半导体器件用熔断体的补充要求
【标准号】:DINEN60269-4/A1-1997
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1997-10
【实施或试行日期】:1997-10-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;保护(装置);熔断器;试验;指示装置;低压熔断器;半导体工程;特性;低电压;断路容量;电气设备;熔断体;半导体器件;规范(验收);非连续范围;冲击装置
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K31
【国际标准分类号】:29_120_50
【页数】:5P;A4
【正文语种】:德语


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基本信息
标准名称:半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范
英文名称:Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits—Blank detail specification of integrated circuit dynamic read/write memories
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
ICS分类: 电子学 >> 电子电信设备用机电零部件
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2003-01-01
实施日期:2004-08-01
首发日期:2003-11-24
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
提出单位:中华人民共和国信息产业部
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:中国电子技术标准化研究所(CESI)
起草人:王琪、李燕荣
出版社:中国标准出版社
出版日期:2004-08-01
页数:16开, 页数:15, 字数:29千字
书号:155066.1-20631
适用范围

本部分为第10部分,等同采用IEC60748-2-10:1994(QC790107)《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第10篇:集成电路动态读/写存储器空白详细规范》(英文版)。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路 电子学 电子电信设备用机电零部件